二手 JEOL JSM 7500F #293641220 待售

JEOL JSM 7500F
製造商
JEOL
模型
JSM 7500F
ID: 293641220
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS.
JEOL JSM 7500F是一種掃描電子顯微鏡,用於對表面和樣品特征進行高級成像和分析。這款SEM配備了一套先進的成像和分析能力,包括用於詳細表面觀察的階段樣品掃描、用於多個區域同時成像的多束電子柱,以及能夠分析從金屬和半導體到有機化合物的廣泛材料。JEOL JSM-7500F高度靈敏,具有提供30千伏最大加速電壓的電子柱和高速數據采集設備。系統每秒最多提供60張圖像,圖像大小可達2000 x 2000像素。它還有一個高速X射線映射單元,用於對材料進行精確成像。此外,該機還配備了高精度的計算機控制采樣臺,用於精確的采樣位置。JSM 7500F還具有先進的分析能力,包括EDS/EDX光譜學,它允許同時對具有高分辨率元素映射的樣品進行光譜分析。它還允許用電子束進行能量色散X射線成像,以獲取基於X射線強度的圖像。此外,JSM-7500F提供了高度自動化,具有圖像處理和分析功能,可以對獲取的數據進行操作和解釋。它還配備了EBSD測量能力,允許晶體結構和晶界的自動映射。總之,JEOL JSM 7500F掃描電子顯微鏡是一種強大而可靠的材料表面成像和分析工具。它具有強大的成像能力和多用途的分析能力,非常適合希望分析各種復雜材料的實驗室或研究機構。
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