二手 JEOL JSM 7500F #293643351 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

製造商
JEOL
模型
JSM 7500F
ID: 293643351
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 7500F是一種先進的掃描電子顯微鏡,用於檢查材料的結構和表面。這類顯微鏡的工作原理是將聚焦的電子束發射到樣品材料上,然後收集從樣品反彈回來的電子信號。該顯微鏡用於觀察高精度材料的組成和結構。JEOL JSM-7500F配備了四種不同的電子光學透鏡,具有高分辨率成像能力。它是市場上分辨率最高的SEM之一,15kV時分辨率達到1.3nm。該儀器還配有廣泛選擇的各種應用的檢測器,包括二次和反向散射電子檢測器、用於元素分析的EDX檢測器、陰極發光(CL)檢測器和精確的高加速電壓檢測器。顯微鏡裝有一個自動高速級,允許樣品架在三個軸上移動和旋轉。它還具有獲得專利的「Smart Eye」自動對焦系統,該系統使對焦過程自動化,從而實現更快的成像和更準確的結果。此外,顯微鏡能夠在低真空操作中成像樣品,減少充電效應的發生,允許高分辨率成像,而無需耗時的樣品塗層。此外,顯微鏡還配備了自動區域采集功能,該功能可自動測量樣本的大面積區域,以確定目標成像的目標區域。所收集的圖像可以使用機載軟件套件進行操作,從而便於分析、準備比較圖像序列以及集成多個圖像數據集。該系統還專為易於使用而設計,具有觸摸屏控制單元和用戶可以快速訪問和執行的各種預設操作。JSM 7500F是研究研究和工業應用材料的理想工具。
還沒有評論