二手 JEOL JSM 7500F #9310971 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 7500F
ID: 9310971
優質的: 2009
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS 2009 vintage.
JEOL JSM 7500F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在提供高質量的成像和無與倫比的晶體結構分辨率。這種顯微鏡提供的高分辨率圖像使研究得以進入多個領域,如材料科學、納米技術、生命科學等等。JEOL JSM-7500F是一種場發射型SEM,具有二次電子檢測器、光電子檢測器、加速度計等諸多特性。脈沖模式電子源產生極低噪聲的圖像,允許極高分辨率的成像。脈沖模式也降低了通常與掃描電子顯微鏡相關的充電效果,導致更高的圖像質量。20mm的槍口提供了極高性能的成像,精確優化的成像散光減少了模糊,提高了信噪比。光電子探測器可提高立體角分辨率,有助於提供更好的晶體和晶粒結構圖像。JSM 7500F具有廣泛的加速電壓範圍,能夠以各種不同的分辨率成像。此外,加速度計提供了入射電子束的精確控制,允許在特征需要高分辨率成像時具有更高的束流分辨率。顯微鏡提供的先進圖像處理軟件允許有效的數據存儲、圖像分析和圖像處理。用戶可以定制設置,以增強顯微鏡的分辨率,準確捕獲結構。該顯微鏡還包括一個自動xyz電機驅動系統,該系統能夠實現自動xyz掃描,從而能夠對小型和大型結構進行快速和準確的成像。JSM-7500F是各種領域的優秀SEM。其優越的圖像分辨率和特點使研究人員能夠捕捉到錯綜復雜的細節,準確觀察各種材料的結構。其自動化功能可減少操作員疲勞,同時提高成像過程中的準確性和可重復性。JEOL JSM 7500F肯定會繼續成為科學研究的寶貴工具。
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