二手 JEOL JSM 7500F #9356461 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 7500F
ID: 9356461
優質的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM) LABE Detector STEM Detector 2010 vintage.
JEOL JSM 7500F是一種自動掃描電子顯微鏡(ASEM),通過掃描和檢測鎢絲產生的電子束,產生高度詳細的生物和非生物樣品圖像。它專為材料科學、納米技術、醫學、工業計量等多個領域的高性能成像而設計。JEOL JSM-7500F利用一系列先進技術,如野外發射槍(FEG)、數字信號處理(DSP)和能量過濾應用(EFTEM)進行高分辨率成像。它基於一種稱為像差校正像差補償(ACAC)技術的專利技術,其中電子顯微鏡物鏡引起的像差通過應用ACAC系統進行校正。這樣可以顯著提高樣本圖像的分辨率。JSM 7500F配備了先進的數字成像和分析開放平臺(DIOP)軟件,使用戶能夠高效獲取和分析樣本的高分辨率圖像。用戶可以訪問一系列成像模式,如SE(二次電子)、EDX(能量色散X射線)、EBIC(電子束感應電流)和EFTEM(能量過濾透射電子顯微鏡),以及一套數字圖像處理功能。JSM-7500F是一種非常耐用、可靠且操作簡單的儀器。它有一個彎曲的PC和可傾斜的野外發射槍(FEG)方便訪問樣品。它還具有自動對齊、掃描和聚焦功能,使用戶更容易獲得準確的結果。JEOL JSM 7500F非常適合尋找多功能、功能強大和高分辨率成像系統的用戶。它具有多種成像模式、高分辨率和強大的圖像分析功能,因此非常適合廣泛的應用。它能夠產生既清晰又詳細的圖像,從而能夠對樣品進行更深入的檢查。總之,JEOL JSM-7500F是一種高性能掃描電子顯微鏡,設計用於各種領域。其先進的技術允許精確和詳細的成像,其自動化功能使其易於使用。適用於多種類型的研究應用,從材料科學到醫學影像學。
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