二手 JEOL JSM 7600F #293653209 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 293653209
優質的: 2009
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
EDAX
Resolution: 1.0 nm at 15kV
Accerlating voltage: 0.1 kV-30 kV
Magnification range: 25x-19000x
Prober current: 1 x 10^-13 order to ≥2x10^-7 A
Electron optics:
Conical anode gun (Schottky type, in-lens field emission)
Probe current range: <1 pA to >200 nA
Automatic gun isolation valve
Adjustable OL aperture strip
Scanning system:
Digital scan generator system
Digital scan rotation linked to kV and WD
Computer eucentric tilt compensation
Specimen chamber and stage
Vacuum
Chilller
Detector: Electron detector, Backscatter electron detector
Operating system: Windows 7 professional
2009 vintage.
JEOL JSM 7600F是一種掃描電子顯微鏡（SEM）.它包含許多高級功能和應用程序,使其能夠用於廣泛的示例分析。該顯微鏡用途廣泛，可用於真空和環境模式，非常適合各種研究應用。JSM 7600F采用了最新的電子光學技術,提供了出色的分辨率和對比度.JEOL JSM 7600F的電子光學設計基於掃描視野。這種掃描模式用於讓顯微鏡捕獲不同焦深和角度的圖像，從而產生更詳細、高精度的圖像。掃描模式還使顯微鏡能夠產生對比度、分辨率和速度提高的數字圖像。JSM 7600F還包括一個強大的能量分散X射線（EDX）光譜儀用於樣品分析。EDX光譜儀使顯微鏡能夠檢測和測量元素之間的能級差異，給出詳細的樣品元素分析。這些讀數可用於準確識別樣本中存在的元素。此外，EDX光譜儀使用戶能夠測量和比較樣品不同區域中元素的濃度。此外，JEOL JSM 7600F利用先進的軟件進行圖像處理和分析。此軟件使用戶能夠輕松地處理和分析圖像、生成3D圖像以及從大量圖像生成數據集。該軟件還具有自動聚焦、自動視野和自動標本漂移校正等自動化功能。JSM 7600F是一種功能極其強大的多功能儀器,非常適合各種研究應用。它結合了先進的電子光學、EDX光譜儀和軟件，使其成為一種通用可靠的樣品分析工具。JEOL JSM 7600F是任何實驗室研究材料或進行實驗所必需的儀器。
還沒有評論