二手 JEOL JSM 7600F #9037223 待售

JEOL JSM 7600F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於成像和分析從生物樣品到無機樣品的多種材料形態。7600F產生的圖像和數據提供了非常高的分辨率，為研究人員、納米技術人員和材料設計者提供了寶貴的信息。該7600F是一個場發射SEM,具有一個Berylium光學系統,它借助自動聚焦電子設備提供高達0.2 nm的超高分辨率,有助於自動調整對目標區域的聚焦。該系統包含一個Oxford INCA Energy™色散X射線（EDX）探測器,它允許用戶檢測樣品發出的X射線輻射以識別元素組成。它提供高分辨率成像，即使是樣品上最小的特征。此外,JSM 7600F還具有較高的並發和快速處理能力,使其能夠在短時間內成像和處理大數據。板載軟件允許用戶最大限度地控制SEM和EDX條件，用於樣品制備、放大和對比設置等。該裝置具有剛性堅固的機器平臺，為連續運行而建造，增加了設備的使用壽命。該7600F非常適合從半導體分析到納米光刻等一系列應用，適用於各種樣品，包括電路板、金屬合金、晶體結構和有機化合物。足智多謀的設備還能夠自動進行現場勘測和分析、故障分析和斷層掃描。JEOL JSM 7600F結合了精確、嚴謹和高分辨率，為研究人員和材料設計師提供了強大的成像和分析工具。憑借先進的特性和功能,該設備非常適合各種應用,使其成為研究實驗室和工程行業的寶貴資產。