二手 JEOL JSM 7600F #9285263 待售

JEOL JSM 7600F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），可用於以高分辨率捕獲詳細的結構和表面。它配備了場發射槍（FEG）電子源，這使得它可以在比其他大多數SEM更大的加速電壓、更高的電流密度和更大的景深下運行。顯微鏡設計用於超高真空（UHV）條件下的操作，使其成為成像介電和有機樣品的理想選擇。顯微鏡配備了WDS（波長色散光譜）設備，使其能夠識別和繪制樣品表面上的元素。該系統能夠檢測到磷、鈉、鋁、矽等元素，用於材料分析。它還有一個EBSD（電子反向散射衍射）單元，可以確定樣品的晶體結構。JSM 7600F由於具有高度靈敏度的探測器，能夠產生高分辨率圖像。其次級和反向散射電子探測器，結合其高分辨率物鏡，能夠捕獲樣品上的分數微米特征。此外，顯微鏡的EDX（能量色散X射線光譜）工具可以用來測定樣品的成分。JEOL JSM 7600F具有各種成像模式，包括SEM、TEM（透射電子顯微鏡）和STEM（掃描透射電子顯微鏡）。顯微鏡還配備了自動晶片級，允許在多個表面上進行大規模成像。JSM 7600F有一個可容納大樣本量的大腔室，以及能夠方便快速地裝載樣品的自動化樣品傳輸系統。最後，顯微鏡附有一套高級軟件，允許用戶控制、監控和分析圖像。此軟件能夠從多個SEM圖像創建3D圖像,並提供增強的可視化和分析工具。