二手 JEOL JSM 7800F #293616742 待售

JEOL JSM 7800F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），它結合了無與倫比的超高分辨率成像和一系列強大的分析能力。先進的JEOL JSM-7800F柱體系結構使得能夠在所有操作模式下同時成像和分析，提供高分辨率、高對比度和低電子劑量的成像。精心設計的操作控件和用戶友好的圖形用戶界面（GUI）使操作員能夠從JSM 7800 F的高分辨率成像中獲得最大收益。多用途繪制功能、強大的自動曝光控制以及集成的色度和自動對焦功能都有助於確保操作的成功,而且操作要求苛刻且具有挑戰性。JSM 7800F可以配置有多種檢測器,使操作員能夠為預期的應用程序選擇最佳的系統配置。二次電子（SE）、反向散射電子（BSE）、鏡內（IL）探測器作為標準選項提供，飛行時間（TOF）探測器可加入元素分析。其他探測器包括用於納米結構分析的低角度探測器、用於分析氧化物表面的高角度探測器以及用於測量特定元素的一系列探測器。JEOL JSM 7800 F的設計用途非常廣泛,涵蓋了廣泛的樣本量、形狀和材料。廣泛的樣品持有者允許最佳的樣品載荷和穩定的樣品定位。可交換陽極提供超尖的微觀分辨率，非常適合研究微觀結構特征和納米級特征。柱內能量濾波器在保證最佳圖像對比度方面也靈活增加。JSM-7800F還包括視頻取景和數字成像功能,可實現更快的樣本加載和計算機控制掃描,以實現精確管理的多階段分析。JEOL JSM 7800F還可以與一系列外圍設備集成，如膠片/電影相機、激光掃描共聚焦顯微鏡和掃描隧道顯微鏡。總體而言,JEOL JSM-7800F提供高分辨率、超高速掃描和采樣,以及廣泛的多功能性和靈活性。先進的柱結構產生超高分辨率、低電子劑量成像，而檢測器和可交換陽極的選擇為廣泛的材料提供了高質量的成像。此外,GUI和集成的數字成像功能允許更快的樣品加載和計算機控制操作進行多階段分析。