二手 JEOL JSM-7800FLV #293664356 待售
看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。
單擊可縮放
已售出
ID: 293664356
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Type: Low vacuum
SM-53210RLV / Retractable LV system 2
SM-71481T1A2-7800F / 5-Axis motor drive stage type 1A2, (86mm Cov.XYR)
SM-71031SE2A-7800F / Specimen exchange airlock type 2A, 100mm x 40mm
JU2013785 / Deben chamber scope, PIP version
SM-73012TMP / Turbo molecular pump
LX1-AIR / Water chiller air cooled
SM-84030SRBE / Retractable BE detector
DEBEN-BSE-78R / DEBEN, Retractable motorised 4-quadrant solid state
- / Backscatter detector with 18mm ULkV diode
51P1000-51D1005 / Standard EDS System, X-Max 50, 50 mm, 127eV
JU2014377 / Environmental cell sample loader option for FE-SEM
JU2015273 / Environmental cell sample holder, Stainless steel
JU2014869 / DENTON Desk-V Sputter coater
JU2014776 / SHARPENER Electric 1/4", 1/8", 3/16" Carbon rods
CAR001-0057 / -
JU2007170 / Carbon rod accy
JU2003032 / Reduced section carbon rods box 100 CAR001-0024
JU2007744 / Gold/Palladium target TAR001-0159.
JEOL JSM-7800FLV是一種掃描電子顯微鏡（SEM）.它是研究微觀結構的可靠、準確的工具，提供了迄今為止最高的分辨率和放大能力。該設備擁有一個由Electro-Glas陶瓷制成的70毫米大腔室，允許從納米尺度到宏觀尺度對物體進行高分辨率觀察。通過加入場發射電子源進一步增強了這一點，該電子源提供了極其明亮和穩定的電子束，從而獲得了更準確的結果。此外，集成的抗振系統增加了額外的穩定性，並最大限度地減少了誤差的可能性。SEM還擁有一系列強大的成像工具,使用戶能夠以最精確和最詳細的方式可視化他們的樣本。它包括一個先進的光學成像單元STEM（掃描透射電子顯微鏡）和EDX（能量色散X射線）技術無與倫比的3維成像。STEM功能使用戶能夠研究原子級的樣品成分,而EDX功能允許元素分析和相關濃度信息。為了方便起見，JSM-7800FLV還配備了一個全自動的樣品轉換機，既易於使用又可靠。這消除了對昂貴的手動過程的需求,並允許用戶專註於進行研究的創造性方面。總體而言，JEOL JSM-7800FLV是一種高效、通用、可靠的掃描電子顯微鏡。其先進的光學成像功能和自動化工具為用戶提供了卓越的成像性能以及能夠精確分析樣品的能力。這使得SEM成為各種研究活動的理想工具，從材料科學到生物醫學應用。
還沒有評論