二手 JEOL JSM 820 #9200141 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 820
ID: 9200141
Scanning electron microscope (SEM) With EDAX.
JEOL JSM 820是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於納米級的精密成像。該儀器的設計針對多種應用進行了優化,包括生物標本成像和一系列材料的3D地形成像。它具有出色的低壓電子能量能力,允許圖像在非常低的電壓和高分辨率下被捕獲。這有助於在成像細膩樣品時盡量減少樣品損壞。JSM 820還提供了數字成像功能,包括一個可用的攝像頭,它可以產生16位灰度圖像,以便對樣品表面進行精確的可視化。顯微鏡還擁有最低的2nm點分辨率,其點掃描模式允許掃描250 x 250 μ m的區域。JEOL JSM 820附帶了廣泛的鏡頭內探測器,用於收集包括二次電子(SE)、反向散射電子(BSE)和X射線在內的多個信號。這些電子探測器在靈敏度和最大動態範圍方面提供了極為廣泛的範圍。JSM 820最方便的特性之一就是它的大樣本室-標本高度間隙可達67毫米-使得它可以很容易地將大標本裝入顯微鏡,這樣就可以對它們進行操作而不必將它們從腔室中移出。此外,JEOL JSM 820提供了一個設備齊全的自動化樣品傳輸系統,具有自動化的樣品裝載能力,有助於降低樣品汙染的風險。JSM 820具有強大的成像能力和可靠的性能,是各種應用程序的理想SEM。對於那些有興趣在不造成損害的情況下對細膩樣品成像的人,或者對最小光斑分辨率為2nm的大面積成像的人來說,這是一個特別可靠的選擇。
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