二手 JEOL JSM 820 #9287783 待售

JEOL JSM 820是一種掃描電子顯微鏡（SEM），提供高分辨率成像到納米尺度的物體。它使用鎢絲產生一束電子束，這些電子束被聚焦並定向到樣品上，以便使用靜電和電磁透鏡進行檢查。樣品需要充滿電荷才能被掃描，這是通過用二次電子束轟擊來完成的。這會導致樣品發射二次電子雲，形成顯微鏡圖像處理器上顯示的圖像。JSM 820具有快速的掃描速度,它可以產生高達其原始尺寸的100,000倍的放大倍數,這使得它甚至能夠檢測對象表面的最小細節。它的成像模式範圍還允許用戶檢查一系列樣品，從吸光表面到非導電表面。顯微鏡有一個自動化的階段，提供精確的取樣位置，並配有一個數碼相機來捕捉標本的圖像。JEOL JSM 820還能夠從樣品中收集數據，使其能夠用於進行各種實驗，包括元素分析。它配有能量色散X射線光譜儀（EDS），測量樣品在受到電子束作用時發出的X射線能量。這使得顯微鏡可以推斷出樣品的元素組成。此外，JSM 820可以配置為自動斷層掃描，使用戶能夠構建樣本的三維圖像。在求和上，JEOL JSM 820是一種強大的掃描電子顯微鏡，可以用來檢查到納米尺度的物體。它結合高分辨率成像和自動取樣定位，是高端分析和實驗的絕佳選擇。由於其自動化的斷層掃描能力，它也可以用於創建標本的三維重建。