二手 JEOL JSM 820 #9373249 待售

JEOL JSM 820是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於分析材料的形態、組成和晶體學。它在0.1-30 kV的電壓和高達200 nA的標稱探針電流下工作,提供高分辨率成像和元素識別。SEM利用現場發射槍（FEG）源進行熱穩定,以確保穩定的成像性能,並在多次掃描中保持出色的分辨率。它也可以用於微觀分析，可以配備一個X射線探測器、EDX（能量色散X射線分析）系統，以及多種探針來表征一系列材料。JSM 820具有較寬的工作距離範圍，從4mm到30、40或60 mm，允許更寬的視野。成像室配有一個電動橫越級，允許在12米步進電機的輔助下，將被調查樣品水平和垂直地穿過標本窗μ移動。檢查人員還可以利用功率叠代器功能,在掃描過程中可以調整顯微鏡設置,以獲得準確的成像和結果。顯微鏡提供了幾種冷卻樣品的方法，包括液氮、液氦、水射流冷卻和共晶冷卻，以防止成像過程中樣品受損。JEOL JSM 820具有多種自動化功能,如半自動和全自動圖像縫合、自動宏編程以及自動縫合和合成。圖片設置和參數可以使用自動圖像參數設置輕松調整,並保存到以後的成像會話中。此外,對於具有特殊SEM要求的用戶,顯微鏡的軟件支持多種操作模式,包括信息模式、低kV模式和單粒子分析（SPA）。JSM 820專為實用和研究目的而設計,提供精確的測量和精確的圖像。憑借其耐用的構造和精準的性能，可以提供適合資源和能源相關研究的成果，以及材料科學和工程等其他科學領域。