二手 JEOL JSM 840 #175953 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 840
ID: 175953
Scanning electron microscope Tungsten filament Film Camera CRT with 4x4 and 120mm camera backs. Orion digital capture system running on a separate PC which runs Windows 98. Eucentric goniometer stage 15mm x, 25 mm y, 31 mm z. Solid State Backscatter detector Liquid nitrogen trap Scan rotation and tilt correction Dual frame/zoom control Video recording mode Includes operating manuals and schematics.
JEOL JSM 840是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於精密研究和分析應用。它具有產生遠光束電流的野外發射槍(FEG),並具有廣泛的電壓範圍,以獲得所需的分辨率和光束容量。其數字信號處理器(DSP)和高速掃描確保了快速、平穩的主動掃描。超高分辨率傾斜角檢測器提供精確、快速的自動傾斜。JSM 840提供高達300,000倍的放大倍率範圍,分辨率可降至1.0納米。它的EDS系統能夠快速準確地進行元素分析。不同模式(包括SE、BSE、CL和SE/BSE通道)之間的靈活切換能力提高了樣本的多功能性,並實現了更高效的操作。流式腔室控制保持高真空,而閉環壓力控制最大限度地減少了對樣品的環境幹擾。JEOL JSM 840還具有具有圖形功能的直觀用戶界面和專用的圖形芯片卡,簡化了操作。它可以在內存中存儲多達256個示例圖像,並且可以遠程控制以節省時間。計算機集成設計允許JSM 840與SEM/EDS和SEM/FIB等其他系統同時運行。它還支持數據導出到第三方軟件。JEOL JSM 840是一個可靠的多用途采樣系統,為各種研究應用提供優越的結果。它的高性能系統可確保精確的測量,而且用戶的工作量最少。強大的設計和質量控制提供了最大的可靠性和可維護性。JSM 840以其特點和優異的性能相結合,是一款功能強大的掃描電子顯微鏡。
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