二手 JEOL JSM 840A #293592718 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 840A
ID: 293592718
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 840A是一種掃描電子顯微鏡(「SEM」),專為科學和工業領域的廣泛應用而設計。SEM能夠用能量色散X射線光譜(EDS)系統產生納米級物體的高分辨率圖像,範圍從微米到納米。該儀器經過優化,可用於成像、分析和其他科學目的,如生物材料中結構的可視化,以及材料的特性和低和高Z材料的元素分析。JEOL JSM-840A具有LAN接口,並配備了專用的快速映像過程,可實現高達一百萬像素的分辨率。它具有高達一百萬倍的放大倍數,在原始掃描尺寸下超過64倍,允許對密集堆積的精細結構進行高分辨率成像。EDS系統能夠直接分析低和高Z材料,範圍從可見波長到X射線波長。SEM配備了獨特的「耳語」透鏡,保持物鏡與標本之間的穩定路徑,從而提供無像差的高對比度圖像。JSM 840A配備了可變壓力系統,允許在不同的大氣條件下運行,以及在真空中成像。它還配備了參數化透鏡,可以讓用戶獨立控制電壓和電流,進一步優化圖像對比度。JSM-840A設計直觀、用戶友好,提供強大的軟件,包括用戶友好的圖形用戶界面(GUI),可簡化儀器的操作和控制。SEM還配備了許多安全和安保功能,包括安全鎖和防振動系統,確保用戶和儀器的安全工作環境。總體而言,JEOL JSM 840A是一種功能強大、用戶友好的掃描電子顯微鏡,非常適合對納米級物體進行表征和成像。它可以產生具有出色對比度的高分辨率圖像,並配備了多種特性,以簡化操作和提高安全性。
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