二手 JEOL JSM 840A #293729703 待售

JEOL JXA 840A掃描電子顯微鏡（SEM）是一種最先進的儀器,用於對從幾納米到幾百微米大小的樣品進行成像。這種高性能設備是專門為故障分析、材料科學、生物研究等一系列分析應用而設計的。該840A利用由場發射槍組成的電光柱產生入射電子束，利用一系列帶電靜電透鏡聚焦和成形光束，並利用角度校正器使入射光束傾斜最小化。柱耦合到一個大的形狀和傾斜級，使得樣品相對於入射電子束有角度和方向的運動。X射線探測系統允許從樣品中提取更多信息。此SEM提供功能和性能的強大組合,使其成為各種映像應用程序的理想選擇。集成的電子和軟件相結合，為可變環境條件下的成像提供了一個倒視單元和可變壓力操作。場發射槍產生精細聚焦的冷凝電子束，由帶電透鏡電極精細操縱。這與高對比度色彩控制器和電子放大圖像信號相結合，提供高分辨率圖像，並大大增強信噪比。X射線檢測機捕獲樣品發出的廣譜輻射，用於元素分析。光束監視器和可調光束參數提供了對電子曝光參數的完全控制，以獲得最佳成像結果。該儀器有多種可選組件，可根據特定應用需求添加。這些部件包括低真空工具、數碼相機、冷場發射槍、低背景模式、多腔室掃描、高對比度色彩控制器、低kV低劑量操作。JEOL JXA-840A也非常適合成像各種材料，從半導體和絕緣材料、金屬和合金、復合材料到陶瓷、礦物和生物樣品。可用於分析表面結構和元素組成，產生高質量的圖像和光譜，甚至測量熱、電性能等物理參數。JXA 840A的高性能使其成為故障分析、材料研究、取證和生物醫學成像等應用的理想選擇。此外,SEM還具有確保用戶安全及其符合行業標準的功能。