二手 JEOL JSM 840A #293802277 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 840A
ID: 293802277
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 840A是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),用於詳細分析各種標本的表面和結構。SEM掃描表面,使用二次電子、掃描反向散射電子和廣泛的X射線光譜組合產生高分辨率圖像。工作距離高達25mm,光束電流可以在10 nA到1的範圍內,這種模型非常適合廣泛的研究。該840A提供可變點掃描、高速采集、實時圖像處理和集成沈積控制等高級成像功能。電子光學由具有出色穩定性和精度的冷場發射槍引導。能量色散光譜(EDS)探測器還允許用戶從所研究的樣品中獲取元素信息。該840A恰如其分地命名為「高光源」,利用特殊的EB偏置透鏡,使電子能夠更快地傳播,從而產生更明亮的圖像。而且,光學透鏡的最大放大倍率高達600,000X,使研究人員甚至可以研究其標本表面最小的細節。JEOL JSM-840A還具有低加速度電壓,可實現更精細的分辨率。這可以讓使用者挑選出個別的離子格間距,以及其他精細的細節。此外,系統還包括一個數字接口,可以連接到打印機、視頻設備、局域網、USB和PC。這種SEM非常適合各種應用,包括冶金研究、故障分析、生物和環境研究、半導體分析、材料測試等等。JSM 840A具有高分辨率的成像功能、先進的電子設備和可靠的性能,是任何需要先進而強大的系統進行深入分析的人的理想選擇。
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