二手 JEOL JSM 840A #9039277 待售
看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。
單擊可縮放
已售出
ID: 9039277
Scanning electron microscope (SEM)
Includes:
Morphological observation
Full element analysis capability
Observation of specimen to 10 nm or less
Specification:
Resolution:
Secondary electron image: 4nm-10nm (WD = 8mm-39mm, Acc. Volt = 35kV)
Backscattered electron image: 10mn (WD = 8mm, Acc. Volt = 35kV)
Magnification: 10X-300,000X
Image modes: Secondary electron image
Backscattered electron image
Electron channeling pattern
Emission pattern image
Specimen movement:
X= 15mm, Y=25mm, Z=31mm, Tilt: 90 degree
Rotation: 360 degree endless.
Specimen holders:
12.5 mm dia. x 10 mmH, 32 mm dia. x 20 mmH, 50 mm dia. x 10 mmH
Specimen exchange Airlock type, up to 32mm dia. specimen.
JEOL JSM 840A是由JEOL Ltd制造的精密掃描電子顯微鏡（SEM）.工程公司，電子顯微鏡的全球領導者。JEOL JSM-840A是一種具有大腔室設計的高分辨率低真空場發射掃描電子顯微鏡，允許在不同放大率和磁場大小下觀測直徑達130毫米的樣品，而無需交換樣品。JSM 840A設有環境工程室、頂級80毫米物鏡和300萬像素型反向散射電子探測器，以改善高分辨率成像。光學和探測器的設計具有最高的精確度,提供最精確的圖像細節。此外,JSM-840A是專門為提供靈活性而設計的,具有廣泛的操作參數和軟件解決方案。該設備進一步為材料科學成像提供能量和角度分辨率成像能力。隨著柱內能量選擇器的安裝，JEOL JSM 840A具有精確檢測X射線、電子、俄歇信號進行光譜分析的能力。這種獨特的功能通常用於樣品的元素、形態和化學分析。JEOL JSM-840A進一步配備了最先進的控制功能，使用戶能夠準確確定操作條件，並通過幾次簡單的擊鍵返回到預定的一組條件。此外,系統的外部控制軟件允許用戶輕松遠程控制多個儀器。最後，JSM 840A憑借其先進的冷卻裝置和混合驅動機，提供了卓越的可重復性和穩定的操作和圖像質量。特殊的導電陶瓷真空室進一步將刀具幹擾降至最低，使分析和成像性能更加可靠。JSM-840A是研究和分析材料的寶貴工具，只是眾多能夠滿足科學專業人員需求的JEOL產品之一。
還沒有評論