二手 JEOL JSM 840A #9069106 待售

JEOL JSM 840A掃描電子顯微鏡（SEM）是一種通用工具,用於在平面圖和側視圖方向上生成樣品的高分辨率圖像。顯微鏡利用電子源檢測圖像投射到熒光屏上的次級電子和反向散射電子。SEM提供尺寸為1 nm至1000 μ m的樣品的高分辨率圖像。SEM的主要成分是場發射電子源，它由發射電子的燈絲組成。然後發射的電子被高壓、7kV或15kV加速，通過噴槍和孔徑。一個正確調整的槍透鏡和提取透鏡系統給予電子所需的能量，並將它們聚焦到一個小點，1nm-1 μ m。電子束掃描系統由幾個偏轉器和3軸掃描儀線圈組成，用於產生預定的二維圖樣來掃描樣品表面。電子束掃描系統在樣品表面上以預先選擇的光柵模式移動光束，二次電子（SE）和反向散射電子（BSE）由位於樣品級兩側或舞臺本身的探測器收集。電子隨後通過一個電子放大器，將光束放大並進一步聚焦到目標（熒光屏）上進行處理和數字化。電子束通過一個像素單元，在該單元中，電子及其關聯的能量產生了傳遞到目標的光束的投影。然後將目標上的圖像數字化、保存並在監視器上查看,從而可以對樣本的特征進行定量分析。除SEM成像外，JEOL JSM-840A還通過將能量色散光譜（EDS）與SEM組分相結合，提供元素分析能力。EDS模塊是為元素映射而設計的，它可以提供基於能譜分析的元素組成信息和小範圍的目標區域。JSM 840A是一種功能強大的儀器,能夠產生高分辨率的圖像,放大範圍可達x 650,000。盡管這種顯微鏡比大多數顯微鏡更重，但它提供了更大、更通用的掃描功能。因此，它是學術和工業研究和影像應用的理想工具。