二手 JEOL JSM 840A #9102734 待售

JEOL JSM 840A
製造商
JEOL
模型
JSM 840A
ID: 9102734
優質的: 1983
Scanning electron microscope (SEM), 1983 vintage.
JEOL JSM 840A是一種掃描電子顯微鏡,旨在提供高分辨率成像和分析具有大景深的樣品,以便更好地進行分析。其超高真空(UHV)環境和場發射電子源提供了良好的圖像分辨率。它擁有一個具有特殊光學設備的野外發射槍,以產生理想的電子束並給出更好的圖像分辨率。其分辨率為3Å的次級和反向散射探測器可以檢測樣品發出的電子。JEOL JSM-840A具有300 mm的級容量、從1kV到30kV的加速電壓範圍以及可用於進行化學反應原位觀測等實驗的行波電子柱(ECTW)特性。該系統還具有高速導航單元和自動換檔功能-用於快速樣本傳輸和自動映射。此SEM還包括用於調查示例結構的本機3D功能。它具有高達250X的高縮放比例、細胞成像階段以及自動圖像捕捉和縫合功能。本機具有最大的400,000X放大倍率,因此具有極大的放大小特性或粒子的能力。它有一個用於能量色散X射線光譜(EDX)的4象限探測器,允許元素分析和成像相結合。JSM 840A還有一個圖像處理單元,可以通過修改亮度和對比度,消除噪音,銳化對象邊緣來提高圖像質量。此外,它還可以在15秒內捕獲單個全場A3成像,並提供捕捉多個場的能力,作為鑲嵌拼湊在一起。這種掃描電子顯微鏡是故障分析、缺陷分析、表面分析等應用的理想工具。它的高分辨率成像使得它非常適合觀察納米級結構和過程。
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