二手 JEOL JSM IC848A #9039276 待售
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ID: 9039276
Scanning electron microscope (SEM) with EDS, 6"
Includes:
Full element analysis capability
Large chamber design, 150 mm samples
Load lock
Full scanning in X and Y axis
Observation of 10 nm or less
Thermo Noran EDS detector (mounted)
No software or other hardware
Accelerating voltage:
0.2 to 40 kV (linked with bias, lens currents, and coil currents)
Magnification:
10x (at 39mm working distance) to 300,000x
100x (fixed)
Speciment movment rage:
X-direction: 160mm
Y-direction: 160mm
Z-direction: 38mm
Tilt : 0 to 60 degree
Specimen exchange:
By airlock: Up to 204mm dia. specimen holders
By stage drawout: Available
Speciment holder:
12.5mm dia. x 10mm H specimens (height adjustable)
102mm dia. x 0.5mm H specimens
153mm dia. x 1mm H specimens
204mm dia x 1mm H specimens.
JEOL JSM IC848A是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於一系列分析和成像應用。具體而言，這種SEM提供了無與倫比的分辨率來調查生物和物理樣品，並對其微觀結構進行準確的分析。JEOL IC848A具有廣泛的分析能力，能夠對各種微觀結構進行高度詳細和準確的成像。這款強大高效的SEM配有高分辨率歐文Einzel透鏡和先進的四極磁電子柱。這種技術的結合為樣品的分析和成像提供了高精度。此外,該SEM所使用的掃描設備采用了精細的現場設計,使其能夠在低放大倍率下捕獲樣品的最佳細節。此功能使JEOL IC848A掃描和成像應用的寶貴工具。此外，這臺儀器還配備了電子光學柱和數字讀出系統，能夠以0.02微米的分辨率檢測樣品結構的任何變化。由於其高分辨率和先進的檢測單元，JEOL IC848A可以精確測量包括金屬、陶瓷、復合材料在內的各種材料的微觀結構。在成像能力方面，JEOL IC848A具有電子照片倍增器相機和超高靈敏度檢測器。這兩個功能為各種樣品類型提供了高質量和精確的成像結果。用戶可以通過串聯操作多個圖像捕獲系統來控制SEM的光學功能並節省時間。為提高性能，JEOL IC848A集成了最新的軟X射線光刻技術，使用戶能夠以高度準確的方式了解材料的微觀結構。此外,此SEM還使用集成的檢測機器進行操作,該機器可以檢測樣品的表面細節並對任何給定的材料進行元素分析。總體而言,JSM IC848A是一種功能強大且先進的掃描電子顯微鏡,提供一系列分析和成像功能。它具有先進的特點和高分辨率成像，是準確表征和分析各種材料微觀結構的寶貴工具。
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