二手 JEOL JSM IT100 #293594511 待售

JEOL JSM IT100
製造商
JEOL
模型
JSM IT100
ID: 293594511
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM IT100是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),允許從納米到宏觀的成像和分析。高放大倍率、成像分辨率、高靈敏度範圍,使其成為包括半導體生產、材料科學、故障分析等多個領域研發的寶貴工具。電子源是一種超高壓超亮槍,能夠將電子加速到30kV,產生顯微鏡所知的高倍率和高分辨率。此外,由於具有納米焦點特征,電子束的大小可以穩定在25nm以下。此外,解析X射線附件允許JEOL JSM-IT 100以數字成像板(DIP)檢測器系統翻轉至透射電子顯微鏡(TEM)模式,允許對樣品進行元素和結構分析。JSM IT 100中的數碼相機允許實時成像,可用於生成2D和3D圖像。JEOL JSM IT 100的樣品制備對於各種樣品來說都是簡單明了的,該室有一個大的樣品室和各種各樣的附件來處理不同的樣品形狀。其中一些配件包括真空附件、冷凍舞臺、自動采樣器和加熱舞臺。JSM-IT 100產生的結果可用於多種用途,尤其是用於各種材料的故障分析。顯微鏡的高分辨率成像和元素分析能力使研究人員能夠識別組件的問題,並建立模擬來分析失敗的原因。JSM IT100中包含的復雜軟件允許對收集到的數據進行用戶友好的分析和操作。它包括廣泛的圖像處理和數據分析功能,包括具有振幅的成像、相位成像、粒子分析和元素分析。這些都可以通過自動化托盤訪問,從而輕松獲得所需的結果。總體而言,JEOL JSM IT100具有高分辨率、靈敏度、多種配件和分析能力,是各領域研發的重要工具。其復雜的功能集為用戶提供了充分利用SEM實驗所需的多功能性。
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