二手 JEOL JSM IT100 #9242147 待售

製造商
JEOL
模型
JSM IT100
ID: 9242147
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM IT100是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM),主要用於成像、分析和各種材料的樣品制備。這款先進的高性能SEM為精確的材料表征提供了極好的靈活性。JEOL JSM-IT 100利用低壓場發射槍(FEG)電子源,表現出極高的穩定性能,能實現優異的分辨率和超低電壓操作。自動采樣階段和查看設備可創建高效的成像和分析工作流,以便於訪問SEM功能。該設備保持了成像參數的典型可重復性,能夠在不同的樣本中獲得準確、可重復的結果。JSM IT 100配備了大視野、高達220,000X的高放大倍率和低能量損耗的鏡頭內場,允許高度細致的成像。該系統還具有低噪聲底板,用於準確的信噪比分析。此外,JEOL JSM IT 100還提供了一種新的成像模式-篩選電子衍射(SED),它允許在超高真空條件下進行高分辨率成像,同時保持出色的深度分辨率。JSM IT100是一個具有廣泛應用的通用單元。它可以用於材料、金屬、結構、納米材料和設備的表面分析和成像、3D成像、故障分析等等。也可用於材料表征,如晶粒尺寸測量、分布分析、相位識別、缺陷分析等。利用其SD-BP自動階段,用戶可以非常快速地以很高的精確度準備大面積樣品。JSM-IT 100的分析能力還可以與廣泛的環境設備和成像系統相結合,如能量色散X射線光譜(EDS)、X射線熒光顯微鏡(XFM)和激光光學系統,用於多用途的研究和工作流程。總體而言,JEOL JSM IT100是一種高度先進的掃描電子顯微鏡,設計用於材料表征和樣品制備。它易於使用,為用戶提供出色的分辨率、穩定性和準確性,以及廣泛的分析功能。這臺機器非常適合研究各種納米材料和裝置。
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