二手 JEOL JSM T300 #293664531 待售

JEOL JSM T300
製造商
JEOL
模型
JSM T300
ID: 293664531
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM T300是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於成像和分析到納米級的材料。JSM T300在材料科學、晶體學、生物醫學、生命科學等多個不同的研究領域有著廣泛的應用。它配備了多種先進技術,使研究人員能夠繼續推動科學發現的界限。JEOL JSM T300具有1kV的加速電壓額定值,使其具有「T系列」系列中可用的最高設備分辨率。這與一個可變的壓力室相結合,可以達到低至4 Pa的壓力,使得即使是最細膩的樣品材料也能成像。它還配備了二次電子探測器(SE)和附加的反向散射電子探測器(BSE),以納米尺度捕獲高分辨率地形信息和組成信息。除了兩個探測器,JSM T300還有其他幾個功能,使其成為高級成像的理想選擇。具有X、Y、Z、Rz、Rn移動能力的快速5軸電動級以及294mm x 325mm的大樣板室。它還具有先進的帶電粒子束(CPB)去除器和具有低振動功能的舞臺平臺。通過使用這些功能,JEOL JSM T300可以在極其精確的級別上執行可重復的成像和分析。JSM T300提供了廣泛的創新功能,旨在增強其性能。它包括一個能量色散X射線分析(EDAX)系統,一個雙光束自動對焦單元,一個自動轉臺,一個低振動級平臺,和一個散焦激光束(DLB)機器,以產生高對比度的圖像。它還擁有一個最高分辨率為1200萬像素的高分辨率相機,可捕捉高質量的圖像,放大倍數可達50,000倍。總體而言,JEOL JSM T300是一種先進的高性能掃描電子顯微鏡工具,專為需要最高水平成像和分析的研究人員設計。其廣泛的特點、高標本室容量、可變壓力室使研究人員能夠以最高的精度和精確度對納米級材料進行成像和分析。
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