二手 JEOL JSM T300 #9174752 待售
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ID: 9174752
Scanning electron microscope (SEM)
Equipped with:
Secondary electron detector for imaging
Image resolution: 200 nm at 50000 Magnification
Operating voltage: 5 kV to 30 kV.
JEOL JSM T300是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於對有機和無機材料進行成像,用於各種不同的研究應用。這種先進的SEM設備提供高達5 nm橫向分辨率的高分辨率成像能力。JSM T300有一個自動化的樣品定位系統和機動化的樣品室,可以進行精確的手動或自動化樣品裝載。此單元的總放大倍率範圍為10 x至300,000x。JEOL JSM T300使用兩個電子束以高分辨率產生圖像。主要電子束用於收集所需的圖像信息。二次電子束用於樣品的光譜分析。二次電子束可用於檢測樣品表面上的元素,可用於元素組成分析。該機還有一個集成的能量色散X射線(EDX)光譜儀,提供無取樣的定性和定量化學成分分析。該工具還包括一個環境掃描電子顯微鏡(ESEM),它允許成像濕樣。ESEM無需真空環境即可產生出色的圖像。這一SEM資產設計用於環境條件,從大氣壓力到4 Torr。JSM T300是一種用途廣泛且可靠的模型,旨在滿足各行業的研究需求。此SEM設備堅固可靠,以最高分辨率提供出色的成像效果。它可以用於3D成像、冶金、材料科學、地形研究等多種不同的應用。自動化的樣品定位系統和電動樣板室在執行各種不同的任務時提供了準確性和可重復性。對於需要在可靠多用途的機器中獲得最高分辨率SEM成像和光譜能力的研究人員來說,這個單元是一個極好的選擇。
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