二手 JEOL JSM T300 #9252204 待售
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ID: 9252204
Scanning Electron Microscope (SEM)
Secondary electron detector for imaging
Image resolution: 200 nm at 50,000x magnification
Operating voltage: 5 kV to 30 kV.
JEOL JSM T300是一種桌面掃描電子顯微鏡（SEM），專為教育和研究應用而設計。它配備了超高分辨率和三維圖像捕獲能力，使用戶能夠對樣品進行精細的研究。使用JSM T300，樣品放在樣品支架上，然後用電子束掃描。當電子束掃描樣品表面時，電子與樣品相互作用，導致產生不同的信號。然後對這些信號進行測量和分析，允許用戶以高分辨率獲得樣品的3D圖像。JEOL JSM T300中使用的電子束是利用散光線圈產生的。這些線圈產生具有寬範圍電子束電流的電子槍，並在高能量下減小放大倍率。此光束使用戶能夠以低放大率獲得高分辨率圖像,同時還允許寬範圍的放大率和景深。JSM T300還利用Everhart-Thornley探測器檢測SE（二次電子）和BE（反向散射電子）。該探測器具有很高的靈敏度，使用戶能夠精確確定試樣的表面地形和元素組成。此外，JEOL JSM T300可以配備多個可選配件，如EDS（能量色散光譜儀）和鏡頭內SE檢測器。這些附件使用戶能夠進一步增強JSM T300的成像功能,使他們能夠對樣品進行高級分析,並深入了解樣品組成。JEOL JSM T300能夠在各種真空級別運行,從<10-7mbar到>10-4mbar。這使用戶能夠使用各種樣品，包括熱力學穩定性低的樣品。JSM T300還具有易於使用的計算機界面,它簡化了儀器的操作,並允許快速高效地獲取圖像。JEOL JSM T300是從生物和材料科學研究到日常任務檢查等一系列應用的理想工具。憑借其先進的成像功能和各種可選附件,JSM T300為用戶提供了一個可靠而高效的工具來獲取精確而詳細的樣本圖像。
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