二手 JEOL JSM T330A #116691 待售

製造商
JEOL
模型
JSM T330A
ID: 116691
Scanning Electron Microscope with Tracor Northern Z-Max 30 Series TN5502N EDS System Resolution: 5nm (SEI, 30kV, WD=10nm) Magnification: LGS 15x (WD=48mm) -200,000x SGZ 35x (WD=38mm)-200,000x Accelerating voltage: 0.5-30Kv Cooling water: 2L per minute Power requirement: 100VAC 1Phase 50/60Hz, 2kVA Constant Current: 20A, Starting Current: 60A Tracor Northern Z-Max 30 Series TN-5502N EDS system specifications: Z-Max 30 Series Model: 98-629I3/54S Controller Model: TN-5502N Assy.:700P117748 Laboratory Resolution: 148.6 Laboratory Peak/BKGD.: 889 Bias Voltage: -400V Heater Voltage: 10.0 Controller Power Requirement: 115VAC 12A or 230VAC 7A.
JEOL JSM T330A是一種利用電子束分析樣品表面的掃描電子顯微鏡(SEM)。其特點允許對各種樣品進行高分辨率成像和三維成像。JSM T330A在15kV電子源上運行,最大分辨率為0.3納米,允許對小樣品或區域進行最高分辨率的成像。此外,利用電動級傳感器和光電倍增管獲取樣品的數字圖像,實現實時測量和準確的樣品分析。電動級傳感器也可以用特定的操作進行編程,允許掃描和樣品對準的自動操作。JEOL JSM T330A由於其集成的反向散射電子探測器(BSD),能夠創建超高清圖像。該設備能夠收集各種探測器,並向用戶提供,以便以不同的方式分析樣品。JSM T330A還提供了一系列過濾器和印版,以便對有機樣品和無機樣品進行更容易的分析。JEOL JSM T330A配備多元件EELS探測器;這一特征允許在原子尺度上增強成像並識別樣品中存在的元素。這一特征在能量色散光譜(EDS)和X射線光譜的研究中極為有用。JSM T330A還提供一系列定向和旋轉功能,允許在分析過程中進行樣本處理。這一特征對於成像三維樣本和物體非常有用,特別是在復雜結構中。最後,JEOL JSM T330A采用內置氣體吸塵和電離系統,防止樣品汙染。該系統對於環境掃描和電子顯微鏡極為有用,允許實時分析樣品。總體而言,JSM T330A是一種非常有用的掃描電子顯微鏡,提供高分辨率成像和完整的樣品分析。其特點允許掃描和樣品對準的自動操作,以及對有機和無機樣品的實時分析。此外,內置氣體吸塵和電離系統對保持樣品無汙染非常有幫助,並允許對復雜樣品進行實時分析。
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