二手 JEOL JWS 2000 #293621661 待售

JEOL JWS 2000是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高級成像和分析。它是一種成像工具，將現場發射SEM的威力與最新技術相結合，提供納米級信息的高分辨率圖像。這使得JWS 2000成為表征材料從表面到亞微米級特性的理想儀器。JEOL JWS 2000配備了用於精確成像的場發射源。此源提供高分辨率,再加上低加速電壓和低噪聲。最新的低噪聲探測器進一步增強了高分辨率,即使是最小的特征也可以精確檢測。JWS 2000還具有大工作室和寬電壓範圍，允許用戶在不犧牲分辨率的情況下探測大樣品。JEOL JWS 2000在一個平臺上執行成像和分析應用。它配備了一系列先進的分析工具，包括能量色散X射線（EDX）光譜、反向散射電子（BSE）成像和陰極發光（CL）。EDX提供元素和化學成分信息,而BSE檢測器和CL允許對樣品表面和地下的材料特性進行成像。JWS 2000還提供了一系列成像指標，如對比度、長寬比和線寬。JEOL JWS 2000提供了一系列自動化功能,以提高易用性。它有一個用於精確放置光束的自動對準系統，一個用於快速處理多個樣本的自動化樣品更換器，以及用於精確的圖像采集和分析的自動刀桿和傾斜控制。此外,JWS 2000還支持通過客戶端/服務器和Web界面進行遠程訪問。這允許用戶在世界任何地方操作SEM。JEOL JWS 2000是一種先進的掃描電子顯微鏡，設計用於提供納米級材料和結構的高分辨率成像和分析。它的現場發射源、先進的探測器和寬電壓範圍允許精確成像,而其分析工具、自動化功能和遠程訪問的範圍則提供了易用性和最大控制。JWS 2000是對材料和表面進行納米尺度表征的理想儀器。