二手 JEOL JWS 7500 #9130302 待售

JEOL JWS 7500是一種高精度掃描電子顯微鏡（或SEM），能夠觀察和表征微觀標本到單個原子水平的高度詳細的圖像。儀器利用低能量電子束快速掃描試樣表面，並在極端細節上揭示復雜的三維特征。結果是標本表面的高度詳細的三維地圖，揭示了在光學顯微鏡下看不見的獨特特征。JWS 7500具有廣泛的成像和可探測選項,以滿足各領域研究人員的需求。其中包括高分辨率成像和元素分析能力，使科學家能夠確定樣品的化學成分，以及納米級成像和分析能力，使研究人員能夠在單個原子的水平上進行高度精確的測量。該設備基於一個大的、高精度的Cs校正掃描電子柱，能夠產生分辨率低至0.35 nm的高度詳細的圖像。該柱經過優化,可用於對尺寸從中等到非常大的樣品進行成像和分析,並具有一系列先進的樣品處理工具,包括開放式濺射塗層系統（SCS）,該系統可用於塗覆易碎樣品以防止電子束損壞。JEOL JWS 7500還能夠成像和分析碳和石墨烯片等高長寬比材料，以及進行一些掃描聲學顯微鏡（SAM）實驗來成像超薄矽等脆性材料。其他功能包括用於優化成像條件的檢測器角度可調單元、先進的傾斜校正能力、偏轉控制機以及許多其他功能。對於需要高性能SEM的研究人員和科學家來說，JWS 7500是一個極好的選擇，用於成像和分析樣品到單個原子的水平。該工具能夠生成非常詳細的樣品表面3維圖像，使研究人員能夠精確地表征樣品，即使在納米級。此外,該資產還提供了一系列高級成像和分析選項,以滿足不同領域用戶的需求,使其成為用於研究和工業環境的寶貴且通用的工具。