二手 JEOL JWS 7500E #293616492 待售

JEOL JWS 7500E
製造商
JEOL
模型
JWS 7500E
ID: 293616492
Wafer inspection system.
JEOL JWS 7500E是高性能JEOL JWS系列掃描電子顯微鏡(SEM)的下一代版本。JWS 7500E具有高電子光性能和一系列用於研究和工業應用的尖端功能。該SEM利用平場靜電物鏡實現了卓越的圖像質量和高分辨率。高性能的能量過濾系統允許精確的元素分析。JEOL JWS 7500E配備了高端高壓電子源,在廣泛的加速電壓範圍內提供出色的高壓穩定性、低真空高分辨率成像以及高能選擇性成像和光譜。JWS 7500E具有一個帶有多個控制器支持的自動示例立體定向級,支持電動和手動操作,從而能夠快速準確地放置示例。此SEM還具有高吞吐量軟件包,可用於自動收集數據,包括映射和特征。此外,SEM的大動態範圍允許卓越的高對比度成像,甚至堅韌的樣品。JEOL JWS 7500E可以捕獲多種模式和分辨率的圖像,包括SE、BSE、WDX、EBIC、STEM、SED和HAADF,使得SEM適用於廣泛的應用。JWS 7500E還配備了能量過濾系統,以及可選的能量色散X射線(EDX)和電子反向散射衍射(EBSD)探測器。JEOL JWS 7500E先進的開放式架構設計允許在未來增加進一步的升級。對於工業或生產應用,JWS 7500E提供可選的高速樣品加載和自動缺陷檢測系統,用於無損樣品檢查。SEM還為大樣本的廣域和3D成像的2D成像提供了高速掃描轉換模式。JEOL JWS 7500E提供最先進的性能和功能集,使其成為工業、研究或生產應用的理想選擇。
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