二手 JEOL JWS 7500E #293761017 待售

製造商
JEOL
模型
JWS 7500E
ID: 293761017
Wafer inspection systems.
JEOL JWS 7500E是一種用於高級分析的高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。JWS 7500E具有先進的級驅動設備,為高級納米級成像、分析和測量功能提供亞納米精度。該系統的最大實際放大倍數可達250,000倍,在成像和分析方面提供了無與倫比的詳細程度。JEOL JWS 7500E具有先進的FEG槍單元和雙單眼觀景機,提供穩定、均勻的光束和高分辨率成像。成像工具由具有五個電子透鏡的成像場發射槍(IFEG)或場發射槍(FEG)組成,包括雙重望遠鏡透鏡和高性能物鏡。此配置允許用戶在映像模式、孔徑大小和設備特定設置之間進行選擇。JWS 7500E具有章魚偏轉器資產和先進的圖像穩定能力,以提供最大的圖像穩定性。該模型包括一個集成的計算機控制設備,以全面控制顯微鏡功能和設置。高級級驅動器系統可提供高達每秒10mm的掃描運動,從而在成像應用程序中實現無與倫比的大小和速度。JEOL JWS 7500E是一種先進的能量色散光譜儀(EDS),帶有300元矽漂移探測器。探測單元可以在大小、靈敏度和視野上進行調整,以探測從硼到鈾的元素,分辨率高達10,000倍。矽漂移檢測器可檢測尺寸小於0.4nm的元素,主要元素的檢測極限小於1M,次要元素的檢測極限小於0.1M。JWS 7500E還有一個氣體過濾室,為定量分析提供了一個穩定的樣品環境。JEOL JWS 7500E非常適合需要從生物材料到納米材料等高精度、高質量成像的各種任務。其先進的成像機、能量色散光譜和分析能力相結合,使其成為真正獨特的先進研究和成像應用儀器。
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