二手 JEOL JWS 7500E #293761986 待售

JEOL JWS 7500E
製造商
JEOL
模型
JWS 7500E
ID: 293761986
晶圓大小: 8"
Wafer inspection system, 8".
JEOL JWS 7500E是專為研究和工業應用而設計的高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。它提供了先進的成像性能,包括高放大倍數(18,000x)的高分辨率成像和低千伏成像能力。JWS 7500E配備了多種電子光學器件,包括肖特基發射器、離軸三重態、冷陰極場發射器和廣束冷凝器,所有這些都允許精確操縱電子束。這使用戶能夠實現高分辨率成像,以及對有機材料、金屬、陶瓷等多種標本類型的優越對比度。除了強大的成像和分析能力外,JEOL JWS 7500E還配備了自動化采樣階段。其「智能階段」技術使標本階段能夠自動調整和校正,以確保準確、一致的成像。JEOL還提供各種自動化功能,包括原位分析、光學計量和表面成像。JWS 7500E還提供了許多先進的分析能力,包括數字成像、能量色散X射線光譜(EDS)、波長色散X射線光譜(WDS)、X射線熒光(XRF)和陰極發光(CL)分析。EDS和CL系統提供元素和組成分析,而WDS和XRF可以得到額外的表面分析。所有這些功能使JEOL成為材料分析的理想工具。JEOL JWS 7500E還具有一系列控制和面向用戶的功能。它有一個實時的圖形用戶界面,為操作員提供調整參數、放大倍率和試樣階段角度的能力。這種直觀的接口使JEOL易於操作,並允許高級控制級別。JWS 7500E是一種強大的顯微鏡,旨在滿足研究和工業組織的需要。其先進的成像和分析能力允許對標本進行詳細的觀察和表征,使其成為材料分析應用的理想選擇。
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