二手 JEOL JWS 7500E #9223533 待售
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ID: 9223533
Scanning Electron Microscope (SEM)
Wafer stuck inside
Optics need to be replaced.
JEOL JWS 7500E是一種精密的掃描電子顯微鏡（SEM），旨在幫助研究人員觀察和分析原子和納米尺度的樣品。顯微鏡使用掃描電子束來照亮和放大樣品。利用數字成像和交互技術的結合，研究人員可以用顯微鏡獲得詳細的圖像和3D表面效果圖。JWS 7500E利用高功率40kV場發射電子槍（FEG）產生一束電子束，然後通過電磁透鏡加速並聚焦成一個平面。然後通過樣品掃描這種加速的電子束，使用稱為次電子圖像（SEI）的掃描模式形成圖像。JEOL JWS 7500E還具有檢測反射或二次電子的能力，可以產生具有更大深度信息的更高分辨率圖像。顯微鏡還具有利用反向散射電子（BSE）成像的能力，使研究人員能夠觀察到對比度較高的樣品。除了創建圖像，JWS 7500E還配備了能量色散光譜（EDS）分析儀，用於檢測樣品的元素成分。這可以為研究人員提供有關樣品組成的寶貴信息，使他們能夠更準確地識別樣品中存在的元素和化合物。JEOL JWS 7500E還與低溫制備系統兼容，允許在-200 °C以下的溫度下查看和分析樣品。這使得研究人員能夠觀察到其真實狀態的樣品，消除因樣品對環境變化作出反應而產生的任何變化。總體而言，JWS 7500E是一種非常強大的掃描電子顯微鏡，非常適合納米成像和元素分析。其廣泛的能力和與低溫系統的兼容性使研究人員能夠在原子水平上獲得樣品的詳細和準確的圖像。
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