二手 JEOL JWS 7500E #9224662 待售
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ID: 9224662
Wafer inspection Scanning Electron Microscope (SEM), parts machine
NORAN EDX included.
JEOL JWS 7500E是為高分辨率成像而優化的掃描電子顯微鏡（SEM）。它提供了多種選項來增強成像能力和提供可重現的精確測量。這臺掃描電子顯微鏡配備了強大的形狀校正物鏡和自動化的舞臺，以允許更高的精度和更高的對比度成像。JWS 7500E有一個集成的光束對準設備，有助於確保精確的光束放置。JEOL JWS 7500E提供了一個集成掃描系統,能夠提供分辨率高達2nm的圖像。該單元還有一個額外的場發射電子源，用於更高分辨率的成像。這臺機器能夠快速掃描電子探測，可以處理各種粒子，如有機化合物和非金屬物體。JWS 7500E的另一個特點是可以提供對比度和深度感知的電子反向散射通道。JEOL JWS 7500E配備了操縱器，允許用戶處理難以觸及的樣品，確保樣品在分析過程中不受損。機械手可以容納各種樣本量和形狀，包括旋轉和傾斜能力。自動采樣階段還有助於為觀察和測量提供一致和可重復的環境。JWS 7500E還提供了一個高級圖像處理軟件包,允許用戶分析圖像的不同參數。這個包裝能夠測量面積和體積，計算粒子，並根據顏色和紋理分割物體。軟件包還具有3D重建功能,可以為工程師提供處理後圖像的更多細節和清晰度。JEOL JWS 7500E的可選軟件包還可以提供一系列集成的分析技術。這些技術包括能量色散X射線光譜（EDS）、X射線微分析和陰極發光（CL）。這些技術有助於提高成像分辨率，並為進一步分析提供有價值的化學信息。JWS 7500E是一個出色的掃描電子顯微鏡，提供卓越的圖像質量和不可思議的耐用性。除了先進的成像功能外，它還提供一系列分析技術，幫助用戶從他們的樣本中獲得更多有用的信息。JEOL JWS 7500E為材料研究、半導體和電子研究以及生物醫學研究等多種應用提供了寶貴的工具。
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