二手 JEOL JWS 7500E #9299482 待售

製造商
JEOL
模型
JWS 7500E
ID: 9299482
晶圓大小: 8"
Wafer inspection system, 8".
JEOL JWS 7500E是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),提供頂級成像性能和多功能應用。該掃描電子顯微鏡采用everhart-thornley二次電子探測器,提供高靈敏度和低噪聲成像。此外,JWS 7500E帶有一個標準的反向散射電子探測器,允許用戶獲取二次和反向散射電子圖像,以及檢測樣品中元素的相對豐度。JEOL JWS 7500E還配備了EverNew SEN數碼相機,可提供高達2,048 x 2,048像素分辨率的高分辨率成像。這款數碼相機配備了30位內部視頻處理器和液氮冷卻固態CCD傳感器,提供最高水平的信噪比。此外,JWS 7500E擁有先進的正態束Z功能和高分辨率二次電子(SEM)成像。JEOL JWS 7500E掃描電子顯微鏡還配備了真空設備,專門為高分辨率SEM和反向散射電子成像(BSEI)設計。這一真空系統配備了渦輪分子阻力離子泵以及可進行超高真空操作的旋轉葉片、渦輪分子阻力和離子泵。JWS 7500E還配備了一個自動取樣裝置,能夠在成像地點之間快速方便地傳輸樣品樣本。此外,JEOL JWS 7500E掃描電子顯微鏡提供了電子反向散射衍射(EBSD)能力和能量色散X射線微分析(EDXMA)等多種技術。此SEM還提供了7種5至30 KV的加速電壓的選擇,可用於各種成像應用。此外,此SEM還具有許多先進的分析功能,這些功能使成像和分析變得更快、更容易,例如Modulogic Series技術,它允許用戶快速調整顯微鏡參數以提高性能。總的來說,JWS 7500E掃描電子顯微鏡是一個非常強大的儀器,提供高分辨率的成像以及多用途和強大的分析功能。這款掃描電子顯微鏡的真空機、成像能力和分析特性,使其成為電子、材料科學和生命科學行業人士的絕佳選擇。
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