二手 JEOL JWS 7505 #293594310 待售

製造商
JEOL
模型
JWS 7505
ID: 293594310
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system.
JEOL JWS 7505掃描電子顯微鏡(SEM)與其他SEM相比,分辨率為3.2納米,性能水平高。它有一個先進的野戰發射槍(FEG)與一個擴大的腔室,一個射束裝置結構和一個柱內能量過濾器。這允許用戶獲得更高的放大倍率和更高的景深,從而為圖像提供更高級別的細節。JEOL JWS-7505還提供了廣泛的觀測模式和能力,如掃描隧道顯微鏡(STM)以及原位操作和分析具有改進操作能力的標本。配備的檢測器系統配置為提供更快的圖像分辨率、提高的圖像保真度和準確性、改進的3D成像以及現場采樣操作,同時優化腔室環境。JWS 7505還具有快速的模式搜索和縫合功能,可實現更快的圖像采集和更高分辨率的記錄。JWS-7505的成像模式包括二次電子成像、反向散射電子成像和陰極發光成像。它還配備了多種用於成像的探測器,包括用於原位分析的閃爍體探測器,以及用於成分分析的能量色散光譜儀、電子反向散射衍射(EBSD)探測器和角度分辨能量濾波器。此外,JEOL JWS 7505具有自動觀測和樣品旋轉的標本階段。它還具有使用高速傳輸的數字圖像提要,允許實時觀察和分析。JEOL JWS-7505最適合在潔凈室環境中運行,這意味著它可以在沒有灰塵或其他汙染物的條件下使用。JWS 7505為用戶提供了一個可靠、易於使用的掃描電子顯微鏡平臺。其高分辨率、高速成像和直觀的用戶界面使其成為各種研究應用的理想工具。其低成本的入門選項,加上出色的性能,使其成為掃描電子顯微鏡的絕佳選擇。
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