二手 JEOL JWS 7505 #52502 待售

JEOL JWS 7505是一種掃描電子顯微鏡（SEM），具有先進的成像和分析能力，用於標本的可視化和表征。它能夠對各種樣品類型進行高分辨率成像和精確測量，包括需要低真空和高真空條件的樣品。這種光束成像和分析設備適用於廣泛的應用，從簡單的成像和分析到復雜的多維SEM研究。掃描電子顯微鏡（SEM）系統是建立在一個先進的65mm，2kV場發射槍。這種高分辨率的成像設備提供了出色的分辨率和對比度，使得即使是最小的特征，例如納米級粒子，也能實現高度精確的成像和分析。該單元具有自動對焦控制功能，用戶無需手動調整即可保持樣品鋒利。JEOL JWS-7505配備了多用途光電子光譜儀，可以使用高能技術對樣品進行定量和定性分析，如XPS、UPS、AES、俄歇電子光譜學（AES）。這為研究人員提供了對標本組成和元素分布的詳細分析，從而洞悉材料的結構、特性和可能的應用。除光譜儀外，該機還采用能量色散X射線（EDS）顯微光譜儀進行元素分析。這允許在各種樣品類型中快速和有針對性的X射線元素分析最大介質到高真空條件。該工具還包括一個高速、高對比度的探測器，可提供600萬像素的靜止圖像，放大倍數可達20,000X倍。該探測器能夠記錄每秒30幀的實時視頻，因此研究人員可以在快速移動的樣本的整個上下文中分析動態過程。該儀器是完全自動化的，它的所有組件集成到一個單一的，易於使用的平臺。它設計用於觀察所有類型的樣品，包括液體和氣體。這使得它成為納米技術、材料科學、半導體技術和生物醫學研究的理想解決方案。