二手 JEOL JWS 7505 #9000172 待售

JEOL JWS 7505是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於提供高分辨率成像和分析。它擁有一個加速電壓高達30 kV的野外發射槍（FEG）源，工作距離大170 mm。此外，樣品室還配備了4軸掃描儀和舞臺傾斜控制器。探測器系統由後散射電子探測器（BSE）、X射線探測器（EDX）和二次電子探測器（SE）組成。BSE檢測器的高分辨率為8 nm，活動面積為15 x 15 mm，角接受度為15度。EDX系統的頻譜分辨率為300eV，最大加速電壓為15 keV。SE檢測器具有8 nm的高分辨率。JEOL JWS-7505能夠在橫向和垂直方向生成高對比度圖像和3D曲面輪廓。SEM還具有自動對齊功能,可確保圖像和測量的準確性。高分辨率成像能力和分析工具的獨特結合，使JWS 7505成為材料科學和工程領域研究、開發和生產的理想工具。憑借其高分辨率的圖像和放大能力，JWS-7505可以用來分析材料的結構和組成具有驚人的細節。也可用於研究材料的表面地形，包括粒子和微結構。JEOL JWS 7505的圖像分析和量化功能能夠對材料和表面進行詳細的表征,從而更好地了解其特性。此外,JEOL JWS-7505還包括可選的EDS和EBSD系統,用於進一步的元素分析。綜上所述，JWS 7505 SEM是一種功能強大、用途廣泛的材料和結構高分辨率成像和分析工具。JWS-7505具有多種特性和功能,非常適合在許多不同的行業中進行研究、開發和生產。