二手 JEOL JWS 7505 #9131751 待售

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製造商
JEOL
模型
JWS 7505
ID: 9131751
Transmission electron microscope.
JEOL JWS 7505是一種掃描電子顯微鏡(SEM),利用聚焦的電子束來創建樣品表面或地下結構的高分辨率圖像。7505配備了高分辨率的野外發射槍(FEG),降低預加速電壓,增強二次發射以優化成像。此外,通過獲取多個SEM圖像切片,提高定量測量和難以成像的樣本成像的準確性,7505可用於創建3 D重建。SEM還包含一個最先進的軟件包,允許用戶控制顯微鏡的所有功能,例如調整工作距離和聚焦冷凝器透鏡,以及對自動功能進行編程。7505還支持圖像采集和分析,包括快速圖像采集和自動測量,以快速確定諸如加速電壓和操作電流等參數,從而實現更精確的成像。7505配備了由3個線性軸(X、Y、Z)和2個旋轉軸(傾斜和旋轉)組成的5軸電動級。旋轉軸可用於生成多參數成像(MPI)圖像,傾斜軸可實現對入射角的精確控制。該級還為需要穩定溫度的樣品提供了主動溫度控制系統。7505還配備了一系列成像探測器,可傳遞樣品的高對比度圖像。這些探測器檢測反向散射電子、二次電子、反射電子及其合金以及反向散射信號。此外,探測器可以從樣品中獲取化學和物理信息,以提供更清晰的圖像。7505還包含一個可選的組合檢測器,可以同時提供二次電子和反向散射電子的檢測。最後,7505還提供了一系列其他功能,例如用於高角度成像的60°傾斜和用於在可變壓力環境中獲取圖像而不會造成失真的可變壓力透鏡。7505還提供了廣闊的視野,允許更大的樣品分析,其能量色散光譜(EDS)能力允許除了成像之外的元素分析。這種功能的結合使得JEOL JWS-7505一個強大的和多用途的成像和分析工具。
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