二手 JEOL JWS 7505 #9256120 待售

JEOL JWS 7505
製造商
JEOL
模型
JWS 7505
ID: 9256120
SEM Defect review system.
JEOL JWS 7505掃描電子顯微鏡(SEM)是為廣泛的研究應用而設計的高分辨率成像工具。通過一系列成像模式和對比技術,JEOL JWS-7505 SEM使研究人員能夠可視化樣品的結構和組成,與傳統光學顯微鏡相比,其精度和分辨率大大提高。這使得它非常適合學術研究、工業質量控制和生產過程。JWS 7505 SEM是圍繞一個先進的場發射源和一個配有先進光學元件的高分辨率電子柱構建的。這樣可以確保出色的信噪比和清晰清晰的樣品圖像。柱內電子光學可以調整,以優化空間分辨率和對比度,例如在生物樣品成像時。JWS-7505還提供了廣泛的成像模式,包括高角度環形暗場成像、分析級能量色散X射線光譜和反向散射電子成像。JEOL JWS 7505 SEM提供了一個擴展的工作距離範圍,使各種尺寸的樣品能夠成像而無需進行任何調整。柱子安裝在堅固、減振的外殼中,即使在高功率顯微鏡應用中也能確保穩定的成像。JEOL JWS-7505提供了卓越的操作效率和卓越的人體工程學,因為它可以很容易地在本地和遠程控制。該儀器還配備了各種適合不同種類樣品的舞臺裝置。總體而言,JWS 7505掃描電子顯微鏡是研究科學家和工業應用的優秀成像工具,提供卓越的圖像質量和分辨率。它具有很高的穩定性和準確性,非常適合執行各種任務,而它的易用性和多種成像模式確保用戶能夠充分利用儀器。
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