二手 JEOL JWS 7515 #136964 待售

JEOL JWS 7515掃描電子顯微鏡（SEM）是對多種材料進行高分辨率觀測和分析的理想分析儀。該儀器利用場發射電子源掃描分辨率極高的樣品，通常在150 nm以下，景深約為4.5µm。高性能透鏡內二次電子檢測器提供了盡可能高的二次電子圖像，以及使用透鏡內反向散射電子檢測器進行粗糙表面地形和成分映射的選項。柱內BSE檢測器還產生比STEM/BF檢測器更高的信噪比圖像，在表面細節收集方面無與倫比。此外,JEOL SEM還具有高精度、多位置的舞臺,可自動比較樣品的不同區域,而兩個單獨的窗口（一個用於樣品,另一個用於視屏）使觀察和控制圖像變得更加容易。JEOL JWS-7515與許多選項兼容，包括帶彩色攝像機的數字圖像記錄（DIC）、實時視頻處理、數字線路掃描操作、3D分析和分辨率設置、EDS（能量色散X射線光譜）、陰極發光（CL）和EBIC（電子束感應電流）檢測器。有了所有這些選項，JWS 7515用途廣泛，能夠成像各種材料，從半導體到冶金樣品。JEOL SEM具有高度用戶友好的界面，允許更快的樣本交換和頻譜收集，以及實時的數據采集和存儲，更快的儀器遠程控制和大量的出廠標準設置庫，使儀器的操作更加容易。還有，微機控制儀器始終保持最佳性能，而JEOL SOFTWARE 2.0軟件則允許用戶根據需要保存和重用儀器設置、執行圖像叠加以及修改視頻設置。JWS-7515是一個功能強大的SEM，旨在滿足先進的實驗室分析需求。它提供出色的分辨率、嚴謹的性能和最先進的功能,使其能夠提供各種材料的無與倫比的成像結果。