二手 JEOL JWS 7515 #293621560 待售

JEOL JWS 7515是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於多種苛刻的分析技術和觀測。它有一個通用的設計，可以同時用於高和低真空操作。JEOL JWS-7515是一種先進的現場發射SEM，最終分辨率為1.7 nm。它有一個數字鏡頭內二次電子（SE2）檢測器、反向散射電子（BSE）檢測器和一個能量濾波器。探測器可以進行成像和元素分析。能量濾波器還能夠成像和分析，同時限制一些撞擊電子的能量。SEM使用大量成像和分析應用,包括成像、表面分析和粒子分析。當用於成像時,JWS 7515提供了高水平的細節和對比度。它還具有特殊的功能,例如對多個圖像進行Z堆叠以生成3D圖像。JWS-7515還提供各種探測器以增強分析能力。這包括冷BSE探測器，它檢測較輕的元素，如氫和氦。它還提供專門的探測器，如X射線襯裏色散光譜儀（XLDS），可用於能量分辨率為0.3 eV的多種元素的微觀分析。JEOL JWS 7515借助SEM的計算機自動化控制（CAC）系統提供了廣泛的自動化分析程序選擇。自動掃描、自動操作、元素分析自動數據采集、圖像縫合、表面檢測等功能均標配。這使得SEM更易於使用,並提高了其整體生產率。總之，JEOL JWS-7515是一種頂級掃描電子顯微鏡，能夠提供復雜的圖像和準確的結果。它提供高分辨率成像和幾種分析能力，其各種探測器。CAC還提供了專門量身定制的自動化分析例程，使此SEM的運行變得快捷易行。所有這些特性使得JWS 7515成為各種應用的高效儀器。