二手 JEOL JWS 7515 #293628742 待售

JEOL JWS 7515
製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 293628742
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JWS 7515是一種掃描電子顯微鏡(SEM),提供出色的細節成像和分析能力。它使用了強大的聯合野戰發射槍(CFE)和低壓SEM柱來給予較高的性能水平。除了基本的掃描電子顯微鏡功能外,JEOL JWS-7515還提供一系列高級功能。它針對高分辨率成像和高放大能力進行了優化,具有創新的峰值溫度控制設備,可確保在廣泛的工作條件下穩定運行。顯微鏡還具有先進的納米光束系統,能夠實現超高分辨率成像和分析能力。JWS 7515還有一個靈活的暗場探測器,它允許高質量的暗場成像.該探測器可實現超低工作距離,從而提供更好的樣品觀察和分析。此外,顯微鏡還具有一種具有高動態範圍和光譜分辨率的通用能量色散光譜(EDS)單元,可提供精確的元素數據。JWS-7515還包括一些進一步提高其性能的配件。2D-Cryo樣品支架和真空交換機允許在低溫下進行高分辨率成像,而即時掃描工具可確保連續成像,掃描速率不中斷。JEOL JWS 7515掃描電子顯微鏡憑借其先進的功能提供了卓越的成像和分析能力。其可變加速電壓允許精細的圖像和集成EDS資產提供可靠的元素分析。它是一種可靠的儀器,旨在提供對一系列樣品的詳細了解。
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