二手 JEOL JWS 7515 #293717495 待售

製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 293717495
優質的: 1998
Wafer inspection system 1998 vintage.
JEOL JWS 7515是一種具有鎢絲源的掃描電子顯微鏡(SEM),用於高分辨率成像。它提供高達250,000倍的放大倍率,並且具有50 nm的視野,可實現令人印象深刻的影像效果。JEOL JWS-7515配備了兩個反向散射電子和二次電子的收集器,包括X射線和能量色散X射線光譜(EDS)選項。顯微鏡還具有自動堆疊成像能力,使用戶可以一次快速進行多次成像和光譜任務。這允許更高的吞吐量和更深入的樣品分析。利用15kV加速電壓,JWS 7515可以對絕緣樣品以及直流(DC)或射頻(RF)進行成像研究。SEM還提供了便於樣品處理和定位的觀景室,以及用於對比度控制的單色成像選項。顯微鏡包括一個高和低放大倍率相機方便監測標本。這是由JEOL SmartScan自動對準系統啟用的,以便在成像過程中快速調整SEM的焦點。JWS-7515有一個溫度範圍為-180C至+130攝氏度的環境室,能夠對樣品進行溫度處理。結合45度傾斜階段,可以對樣品進行3 D成像。相關軟件具有低劑量成像功能,可維護樣本完整性以及許多用戶友好的控制、數據采集和管理工具。JEOL JWS 7515適用於微機械研究、故障分析、生物樣品表征、表面元素分析等多種研究應用。高分辨率成像和低劑量技術等特點的結合,使SEM成為高質量成像和分析的理想工具。
還沒有評論