二手 JEOL JWS 7515 #293760152 待售

製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 293760152
Wafer inspection system.
JEOL JWS 7515是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM)系統,旨在為各種應用提供精確和可重現的成像和分析。它能夠產生極高分辨率的圖像,即使是最小的微觀結構,使其成為材料科學、納米技術和分子生物學領域研究的熱門選擇。JEOL JWS-7515具有幾種強大的功能,包括帶有低真空室的100 kV野外發射槍(FEG)。該FEG提供了一個穩定和高品質的圖像與高深度聚焦的材料,直至和包括由金屬和絕緣體制成的樣品。顯微鏡還配備了利用減少入射電子束的低真空柱,以防止樣品充電引起的失真。樣品室旨在為各種樣品材料提供安全的成像環境,包括有機和無機材料。其較大的舞臺面積允許檢查大型標本,而集成到系統中的分區照明系統提供了更好的對比度和圖像清晰度。JWS 7515還可以提供全方位的分析能力,包括二次和反向散射電子成像、能量色散X射線(EDX)光譜、電子探針微分析(EPMA)、自動定向圖像顯微鏡(AOM)、小角度X射線散射(SAXS),甚至3D重建。此外,JWS-7515能夠在自動化環境中運行,並具有允許用戶編程和控制其操作的一系列軟件選項。這些工具使用戶能夠快速設置測試、優化參數、收集數據並以自動化方式進行解釋。JEOL JWS 7515是一款功能強大的掃描電子顯微鏡,提供廣泛的成像和分析能力。其高質量的成像、穩健的構造和一系列集成的分析功能,使其成為各領域研究的熱門選擇。
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