二手 JEOL JWS 7515 #293760157 待售

JEOL JWS 7515是一種掃描電子顯微鏡（SEM），非常適合觀察和分析來自材料科學、物理科學和生物學的各種樣品。顯微鏡使用電子槍產生一束穿過聚焦透鏡並被定向到樣品上的電子束。成像檢測器然後捕獲反射的電子，並創建一個可以觀察單個粒子的樣品圖像。這樣，SEM就可以得到樣品表面的詳細圖像，包括其形態（形狀）、元素組成甚至化學相。JEOL JWS-7515具有2至15 kV的低壓SEM範圍,可實現100,000 x的最大放大倍率。它配備了增加光束亮度的野外發射槍，允許在更高的放大倍率下進行觀測。這種顯微鏡的圖像分辨率非常出色，能夠產生尺寸可達2 µm的亞納米特征和特征的圖像。JWS 7515的樣板室設有4軸級，支援銷條、幻燈片上的標本和培養皿等各種樣本安裝類型。傾斜階段允許樣品操作，使樣品特性可以從不同角度觀察。SEM有多種探測器，包括反向散射探測器、能量色散X射線光譜儀和二次電子探測器。這允許在SEM和X射線模式下成像，以及對樣品進行深入分析。JWS-7515還包括聚焦和放大控制系統、視頻顯示器和真空系統控制面板等自動化功能。顯微鏡具有用戶友好的控制界面，便於訪問SEM的不同菜單功能。JEOL JWS 7515還提供先進的圖像分析功能，包括邊緣、線圈檢測、亮度和對比度功能、粒度分析等。總之，JEOL JWS-7515是一種用於廣泛應用的優秀掃描電子顯微鏡。它提供強大的放大和分辨率，先進的成像能力和廣泛的分析功能。其用戶友好的控制系統使得它成為任何實驗室的絕佳選擇。