二手 JEOL JWS 7515 #84046 待售

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製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 84046
SEM Field emission electron gun EDS detector with cryo compressor (LN2 free operation) Resolution: 8 nm Magnification: 100X to 200,000X Accelerating voltage up to 12 kV 4-Axis goniometer stage.
JEOL JWS 7515是一種掃描電子顯微鏡(SEM),具有磁場發射源和出色的鎢絲,可用於高達15納米的高分辨率成像。JEOL JWS-7515采用多功能設備設計,內置用於樣品加載的操作臂,數字平板顯示器,以及用於圖像采集和分析的強大集成軟件。JWS 7515具有25厘米乘25厘米的大腔室尺寸,在多種應用中允許靈活可靠的樣品裝載。JWS-7515的可變壓力設計讓用戶能夠控制工作距離和電子束電流,從而在成像中獲得更高的精度和分辨率。JEOL JWS 7515能夠成像一系列樣品拓撲,包括高分辨率的表面和內部材料特性、元素分布以及紋理或結晶結構。JEOL JWS-7515還具有包括檢測反向散射電子、反射電子和X射線在內的先進技術;以及高分辨率成像。掃描儀還有一個高分辨率的電動級,用於精確控制,高靈敏度的數字顯示器,以及完全自動化的成像過程。JWS 7515可以連接到PC或工作站,以實現強大的分析、數據管理和系統的自動化操作。JWS-7515可以在較低和較高的真空模式下操作,以便在一系列應用中獲得非常準確和相關的結果。它擁有15納米的超高分辨率,掃描速度高於大多數價格競爭激烈的SEM提供的速度,使其成為需要深度精確成像單元的用戶的理想選擇。此外,可以對JEOL JWS 7515進行編程,以根據所需的應用程序自動優化圖像設置。總體而言,JEOL JWS-7515是一種最先進的掃描電子顯微鏡,為用戶提供了靈活的成像控制。它非常適合涉及納米級成像和精確分辨率的應用,具有高精度的自動化成像功能。它的大腔室尺寸和多功能性為用戶提供了一個可靠的成像機器,在廣泛的應用中產生高分辨率圖像。
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