二手 JEOL JWS 7515 #9174206 待售

JEOL JWS 7515掃描電子顯微鏡（SEM）是研究人員的先進工具。此SEM提供了多種功能,可以詳細、準確地檢查各種材料曲面。其獨特的設計允許廣泛的應用，從材料的檢驗到納米管研究。JEOL JWS-7515擁有先進的用於高分辨率成像的野外發射槍（FEG）。其最大5kV加速電壓可實現高放大倍率的高分辨率成像.該裝置配有一個大的、主動穩定的腔室，可以移動直徑達80毫米的樣品。此外,SEM還具有強大的柱後能量濾波器（PCEF）,能夠準確識別元件。JWS 7515除了具有高分辨率成像能力外，還具有多種用戶友好的功能。它擁有方便用戶的軟件，具有自動收集和自動數據分析功能。此外,系統還使用FEG提供自動漂移校正,以提高圖像穩定性和可重復性。JWS-7515具有強大的自動采樣階段，采樣範圍很廣。它能夠用其集成的可變壓力電子槍成像非導電樣品。此外，該設備還支持多個探測器，用於從多個角度收集數據。該設備還提供了一個帶三列的高功率樣品制備站，便於樣品加載。JEOL JWS 7515還有一個獨特的傾斜控制系統，允許可調傾斜角度。這一特性確保樣品充分暴露於電子束，甚至從難以到達的樣品中獲取數據。最後，JEOL JWS-7515由於其先進的工程而極為可靠。它具有保護樣品免受電子照射損害的特點。此外，SEM在電子濾波方面效率很高，從而實現了更可靠、更高質量的數據采集。綜上所述，JWS 7515是一款功能強大的掃描電子顯微鏡，配備了廣泛的功能和用戶友好的軟件。它能夠以高分辨率進行高級成像，以及準確的元素識別。此外,SEM還提供自動化的樣品準備和傾斜控制,以及數據分析和漂移校正。它是一個可靠、可靠的工具,非常適合需要詳細成像和分析的研究人員和工程師。