二手 JEOL JWS 7515 #9220978 待售

JEOL JWS 7515
製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 9220978
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JWS 7515掃描電子顯微鏡是一種高度先進的分析工具,設計用來測量結構和元素組成具有超強的分辨力。它利用由鎢電子槍產生的電子束來獲得微觀物體的高度詳細的圖像。該儀器的高分辨率成像能力對包括材料分析、生物分子結構和化學成分在內的廣泛研究都有價值。JEOL JWS-7515掃描電子顯微鏡具有高亮度、大視野和高放大倍率的獨特組合。它的高能電子束源能夠放大到3000倍,提供精確成像到納米級。這臺功能強大的顯微鏡還具有很大的動態視場範圍,使得大面積的分析得以詳細研究。此外,它還提供了廣泛的高級分析能力,如能量色散X射線光譜、電子反向散射衍射、深度剖析和化學成像。JWS 7515掃描電子顯微鏡配備了自動對焦控制設備,確保了最佳成像條件。該系統將計算機控制的焦點調整與舞臺驅動器控制器相結合,從而實現精確的樣本掃描。此外,物鏡和反向散射探測器系統相結合,優化了包括金屬材料在內的各種樣品的成像質量。JWS-7515掃描電子顯微鏡還具有集成的元素分析單元,可以對樣品進行高精度的成分分析。此外,它還可用於分析樣品中的汙染水平和檢測微妙表面缺陷的存在。最後,該機器還配備了多種軟件工具,以方便圖像分析和示例文檔。總體而言,JEOL JWS 7515掃描電子顯微鏡是一種用途廣泛、可靠、高效的儀器,非常適合廣泛的研究應用。它令人印象深刻的分辨率和強大的分析能力為該領域的研究人員提供了無與倫比的性能。
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