二手 JEOL JWS 7515 #9249356 待售

JEOL JWS 7515
製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 9249356
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system.
JEOL JWS 7515是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),能夠對大樣品進行精確成像。它具有先進的成像功能和高精度的分析能力,是各種成像應用的理想工具。JEOL JWS-7515配備了一個新的15納米超低噪聲性能探測器設備,以低噪聲提供可靠的成像結果。這有助於減少SEM圖像上變色的發生,並提供更快的圖像捕獲。它還具有一個5軸樣本級,用於對大型樣品進行最佳成像,並能夠在成像過程中傾斜和旋轉樣品,以獲得盡可能高的細節。JWS 7515還包括用於精確掃描結果的自動檢測和聚焦功能。其用戶友好的自動化樣本環境控制(SEM-CON)系統使精確和可重現的方法能夠輕松快速地得到開發。它還具有改進的光學單元,以提高樣品穩定性和提高成像靈敏度。此外,JWS-7515還具有高級數據分析功能。利用其專用的應用軟件,用戶可以從獲取的數據中分析元素組成、圖像形態和晶粒大小。它還有一個粒子分析機,可以精確地分析單個粒子到納米尺度。總體而言,JEOL JWS 7515為映像需求提供了一個通用且可靠的解決方案。憑借其先進的探測器工具、提高準確性和可重復性的自動化能力以及強大的數據分析能力,它是一種理想的工具,能夠為各種流程提供高級成像和精確分析。
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