二手 JEOL JWS 7515 #9256119 待售

JEOL JWS 7515掃描電子顯微鏡是納米尺度成像分析樣品的有力工具。它在單個設備平臺中結合了高分辨率成像和分析功能。該設備具有高達30 kV的加速電壓，用於提高分辨率和敏感樣品的低壓檢測能力。這種掃描電子顯微鏡配備了EDAX的EDS（能量色散X射線光譜）系統，可以進行優越的元素識別。探測器與JEOL SEM物理和數字耦合，提供操作員的靈活性和易視控制。JEOL JWS-7515掃描電子顯微鏡提供了一個高效和易於使用的界面，具有觸摸屏和直觀的控制功能。它提供了全方位的成像模式，包括SEI、SE2（二次電子）、BSE（反向散射電子）、BSED（反向散射電子衍射）、EDS（能量色散X射線光譜）、EBSD（電子反向散射衍射）、電能損失（電子顯微鏡）JWS 7515掃描電子顯微鏡是針對生物材料、聚合物、金屬、合金、陶瓷、玻璃等多種材料而設計的。這個通用的SEM提供高分辨率成像以及定量元素分析與X射線探測器。可以在導電材料和非導電材料中快速準確地進行測量。JWS-7515掃描電子顯微鏡提供了一個高精度的定位單元，具有納米級的可重復性，可以快速和準確的導航樣品。高介電屏蔽有助於減少樣品充電偽影，並允許施加最佳電壓、束電流和發射。它還通過各種內置軟件包提供高速數據采集和分析,使操作員能夠快速準確地評估來自SEM的圖像和數據。此外,該軟件還提供了一系列用戶友好的圖像分析工具和專門的應用程序模塊,如FEG-STEM Analyzer、Automation和CAD比較。JEOL JWS 7515掃描電子顯微鏡提供了可靠的成像和分析機，具有高精度和重復性。它是工業、研究和學術環境的可靠工具。此SEM是材料科學研究的強大工具,提供了廣泛的成像功能。